鎢燈絲掃描電鏡
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱:
鎢燈絲掃描電鏡
產(chǎn)品型號(hào):
SEM3200
產(chǎn)品展商:
REANOW/雷若科技
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
SEM3200鎢燈絲掃描電鏡是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高分辨率圖像。
大景深，成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性，助您在顯微成像的世界中盡情探索。
鎢燈絲掃描電鏡 的詳細(xì)介紹
SEM3200鎢燈絲掃描電鏡是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高分辨率圖像。
大景深，成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性，助您在顯微成像的世界中盡情探索。
豐富的擴(kuò)展性
SE\BSE\EDS\EBSD等
光學(xué)導(dǎo)航
可快速定位目標(biāo)樣品和感興趣區(qū)域
*大圖拼接
可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)的采圖和拼接，展示超大視野畫面
圖像混合成像（SE+BSE）
在一個(gè)圖像中觀察到樣品的成分和表面信息
*雙陽極結(jié)構(gòu)
雙陽極結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，提升了低電壓下的分辨率和成像質(zhì)量
*低真空模式
在低真空下提供樣品表面細(xì)節(jié)和形貌，軟件一鍵切換真空狀態(tài)
鎢燈絲掃描電鏡產(chǎn)品特點(diǎn)（*為選配件）
低電壓
碳材料樣品，低電壓下，穿透深度較小，可以獲取樣品表面真實(shí)形貌，細(xì)節(jié)更豐富。
毛發(fā)樣品，在低電壓下，電子束輻照損傷減小，同時(shí)消除了荷電效應(yīng)。
低真空
過濾纖維管材料，導(dǎo)電性差，在高真空下荷電明顯，在低真空下，無需鍍膜即可實(shí)現(xiàn)對(duì)不導(dǎo)電樣品的直接觀察。
大視場(chǎng)
生物樣品，采用大視場(chǎng)觀察，能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，展現(xiàn)跨尺度分析。
導(dǎo)航&防碰撞
光學(xué)導(dǎo)航
想看哪里點(diǎn)哪里，導(dǎo)航更輕松
標(biāo)配倉內(nèi)攝像頭，可拍攝高清樣品臺(tái)照片，快速定位樣品。
手勢(shì)快捷導(dǎo)航
可通過雙擊移動(dòng)、鼠標(biāo)中鍵拖動(dòng)、框選放大，進(jìn)行快捷導(dǎo)航
如框選放大：在低倍導(dǎo)航下，獲得樣品的大視野情況，可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域，提高工作效率。
防碰撞技術(shù)
采取多維度的防碰撞方案：
1. 手動(dòng)輸入樣品高度，精準(zhǔn)控制樣品與物鏡下端距離，防止發(fā)生碰撞；
2. 基于圖像識(shí)別和動(dòng)態(tài)捕捉技術(shù)，運(yùn)動(dòng)過程中對(duì)倉內(nèi)的畫面進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)；
3. 硬件防碰撞，可在碰撞一瞬間停止電機(jī)，減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能）
特色功能
智能輔助消像散
直觀反映整個(gè)視野的像散程度，通過鼠標(biāo)點(diǎn)擊清晰處，可快速調(diào)節(jié)像散至*佳。
自動(dòng)消像散
一鍵消像散，提高工作效率。
自動(dòng)亮度對(duì)比度
一鍵自動(dòng)亮度對(duì)比度，調(diào)出灰度合適圖像。
多種信息同時(shí)成像
SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像?？赏瑫r(shí)觀察到樣品的形貌信息和
成分信息。
快速圖像旋轉(zhuǎn)
拖動(dòng)一條線，圖像立刻“擺正角度"。
豐富拓展性
掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察，更可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析。
SEM3200接口豐富，除支持常規(guī)的二次電子探測(cè)器（ETD）、背散射電子探測(cè)器（BSED）、X射線能譜儀（EDS）外，也預(yù)留了諸多接口，如電子背散射衍射（EBSD）、陰極射線（CL）等探測(cè)器都可以在SEM3200上進(jìn)行集成。
背散射電子探測(cè)器
二次電子成像和背散射電子成像對(duì)比
背散射電子成像模式下，荷電效應(yīng)明顯減弱，并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。
四分割背散射電子探測(cè)器——多通道成像
探測(cè)器設(shè)計(jì)精巧，靈敏度高，采用4分割設(shè)計(jì)，無需傾斜樣品，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。
成分像
能譜
LED小燈珠能譜面分析結(jié)果。 
電子背散射衍射
鎢燈絲電鏡束流大，高分辨EBSD的測(cè)試需求，能夠?qū)饘?、陶瓷、礦物等多晶材料進(jìn)行晶體取向標(biāo)定以及晶粒度大小等分析。
該圖為Ni金屬標(biāo)樣的EBSD反極圖，能夠識(shí)別晶粒大小和取向，判斷晶界和孿晶，對(duì)材料組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行**判斷。
產(chǎn)品參數(shù)
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型號(hào)
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SEM3200A
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SEM3200
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電子光學(xué)系統(tǒng)
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電子槍類型
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預(yù)對(duì)中型發(fā)叉式鎢燈絲電子槍
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分辨率
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高真空
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3 nm @ 30 kV（SE）
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4 nm @ 30 kV（BSE）
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8 nm @ 3 kV（SE）
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*低真空
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3 nm @ 30 kV（SE）
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放大倍率
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1-300,000x（底片倍率）
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1-1000,000x（屏幕倍）
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加速電壓
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0.2 kV～30 kV
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成像系統(tǒng)
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探測(cè)器
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二次電子探測(cè)器（ETD）
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*背散射電子探測(cè)器、*低真空二次電子探測(cè)器、*能譜儀EDS等
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圖像保存格式
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TIFF、JPG、BMP、PNG
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真空系統(tǒng)
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真空模式
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高真空
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優(yōu)于5×10-4 Pa
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*低真空
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5～1000 Pa
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控制方式
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全自動(dòng)控制
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樣品室
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攝像頭
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光學(xué)導(dǎo)航
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樣品倉內(nèi)監(jiān)控
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樣品臺(tái)配置
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三軸自動(dòng)
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五軸自動(dòng)
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行程
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X: 120 mm
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X: 120 mm
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Y: 115 mm
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Y: 115 mm
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Z: 50 mm
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Z: 50 mm
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/
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R: 360°
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/
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T: -10°～ +90°
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軟件
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語言
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中文
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操作系統(tǒng)
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Windows
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導(dǎo)航
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光學(xué)導(dǎo)航、手勢(shì)快速導(dǎo)航
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自動(dòng)功能
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自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)像散
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特色功能
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智能輔助消像散、*大圖拼接（選配軟件）
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安裝要求
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房間
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長(zhǎng) ≥ 3000 mm，寬 ≥ 4000 mm，高 ≥ 2300 mm
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溫度
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20 ℃～25 ℃
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濕度
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≤ 50 %
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電氣參數(shù)
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電源AC 220 V(±10 %)，50 Hz，2 kVA
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